Zeszyt Naukowy Budowa Maszyn i Zarządzanie Produkcją 7/2007

E-prasaPDF

W artykule przedstawiono porównanie metod pomiaru nanotopografii o największej pionowej rozdzielczości, w których wykorzystuje się takie urządzenia, jak mikroskopy sondy skanującej, interferometry i profilometry. Rozwój technologiczny wymusza w metrologii konieczność pomiaru chropowatości o wysokościach mieszczących się w skali nano. Coraz częściej potrzebne…

4,95 

W bibliotece do 30 minut od opłacenia Bez ograniczeń, znak wodny — jak to działa?

Kup w zestawie taniej

Zaznacz, które tytuły chcesz — rabat zestawu −15% nalicza się przy zakupie min. 2 pozycji.

W artykule przedstawiono porównanie metod pomiaru nanotopografii o największej pionowej rozdzielczości, w których wykorzystuje się takie urządzenia, jak mikroskopy sondy skanującej, interferometry i profilometry. Rozwój technologiczny wymusza w metrologii konieczność pomiaru chropowatości o wysokościach mieszczących się w skali nano. Coraz częściej potrzebne jest uzyskanie nie tylko parametrów 2D, ale także obrazu powierzchni.

Inne książki: Praca zbiorowa