Zeszyt Naukowy Budowa Maszyn i Zarządzanie Produkcją 7/2007
W artykule przedstawiono porównanie metod pomiaru nanotopografii o największej pionowej rozdzielczości, w których wykorzystuje się takie urządzenia, jak mikroskopy sondy skanującej, interferometry i profilometry. Rozwój technologiczny wymusza w metrologii konieczność pomiaru chropowatości o wysokościach mieszczących się w skali nano. Coraz częściej potrzebne…
4,95 zł
W bibliotece do 30 minut od opłacenia Bez ograniczeń, znak wodny — jak to działa?
Kup w zestawie taniej
Zaznacz, które tytuły chcesz — rabat zestawu −15% nalicza się przy zakupie min. 2 pozycji.
W artykule przedstawiono porównanie metod pomiaru nanotopografii o największej pionowej rozdzielczości, w których wykorzystuje się takie urządzenia, jak mikroskopy sondy skanującej, interferometry i profilometry. Rozwój technologiczny wymusza w metrologii konieczność pomiaru chropowatości o wysokościach mieszczących się w skali nano. Coraz częściej potrzebne jest uzyskanie nie tylko parametrów 2D, ale także obrazu powierzchni.
- Format
- E-prasa
- Autor
- Praca zbiorowa
- Wydawnictwo
- Wydawnictwo Politechniki Poznańskiej
- Rok wydania
- 2007
- Wydanie
- 1
- Język
- polski
- Liczba stron
- 188
- Formaty plików
- Rozmiar pliku
- PDF: 16,5 MB
- Zabezpieczenie
- Znak wodny (watermark)
- Słowa kluczowe
- AFM, STM, nanotopografia, VSI, PSI
- Przeczytasz na
- telefon i tablet, komputer, czytniki z PDF
Tylko zalogowani klienci, którzy kupili ten produkt mogą napisać opinię.























Opinie
Na razie nie ma opinii o produkcie.