Zeszyt Naukowy Budowa Maszyn i Zarządzanie Produkcją 7/2007

SKU: AZ#25F2D29CEP/DL-ebwm/pdf
4,95 zł
Cena: 4,99 zł
Najniższa cena z ostatnich 30 dni: 4,95 zł
Oszczędzasz: -0,04 zł
dostępny
W artykule przedstawiono porównanie metod pomiaru nanotopografii o największej pionowej rozdzielczości, w których wykorzystuje się takie urządzenia, jak mikroskopy sondy skanującej, interferometry...
Dodaj do koszyka
Format pliku:
pdf
Opis produktu
Komentarze
Spis treści
W artykule przedstawiono porównanie metod pomiaru nanotopografii o największej pionowej rozdzielczości, w których wykorzystuje się takie urządzenia, jak mikroskopy sondy skanującej, interferometry i profilometry. Rozwój technologiczny wymusza w metrologii konieczność pomiaru chropowatości o wysokościach mieszczących się w skali nano. Coraz częściej potrzebne jest uzyskanie nie tylko parametrów 2D, ale także obrazu powierzchni.

Cechy

Rodzaj: eprasa
Format pliku: pdf
Autor: Praca zbiorowa
Język publikacji: polski
Rok wydania: 2007