Opis produktu
Opinie
Spis treści
W artykule przedstawiono porównanie metod pomiaru nanotopografii o największej pionowej rozdzielczości, w których wykorzystuje się takie urządzenia, jak mikroskopy sondy skanującej, interferometry i profilometry. Rozwój technologiczny wymusza w metrologii konieczność pomiaru chropowatości o wysokościach mieszczących się w skali nano. Coraz częściej potrzebne jest uzyskanie nie tylko parametrów 2D, ale także obrazu powierzchni.
Cechy
Rodzaj: | eprasa |
Format pliku: | |
Autor: | Praca zbiorowa |
Język publikacji: | polski |
Rok wydania: | 2007 |
Liczba stron: | 188 |