Zeszyt Naukowy Budowa Maszyn i Zarządzanie Produkcją 7/2007

(0 opinii)
SKU: AZ#25F2D29CEP/DL-ebwm/pdf
Cena: 6,99 zł
dostępny
W artykule przedstawiono porównanie metod pomiaru nanotopografii o największej pionowej rozdzielczości, w których wykorzystuje się takie urządzenia, jak mikroskopy sondy skanującej, interferometry...
Dodaj do koszyka
Format pliku:
pdf
Opis produktu
Opinie
Spis treści
W artykule przedstawiono porównanie metod pomiaru nanotopografii o największej pionowej rozdzielczości, w których wykorzystuje się takie urządzenia, jak mikroskopy sondy skanującej, interferometry i profilometry. Rozwój technologiczny wymusza w metrologii konieczność pomiaru chropowatości o wysokościach mieszczących się w skali nano. Coraz częściej potrzebne jest uzyskanie nie tylko parametrów 2D, ale także obrazu powierzchni.

Cechy

Rodzaj: eprasa
Format pliku: pdf
Autor: Praca zbiorowa
Język publikacji: polski
Rok wydania: 2007
Liczba stron: 188
Inni klienci oglądali również
Izolacje 2/2024

Izolacje 2/2024

15,99 zł 21,60 zł
-26%
Do koszyka
Rynek Instalacyjny 3/2024

Rynek Instalacyjny 3/2024

16,99 zł 24,00 zł
-29%
Do koszyka
Elektro.Info 6/2022

Elektro.Info 6/2022

10,99 zł 14,40 zł
-24%
Do koszyka
Rynek Instalacyjny 12/2022

Rynek Instalacyjny 12/2022

11,99 zł 16,80 zł
-29%
Do koszyka
Foundations of civil and environment al engineering
Praca zbiorowa

Foundations of civil and environment al engineering

5,99 zł
Do koszyka
Izolacje 1/2023

Izolacje 1/2023

10,99 zł 15,10 zł
-27%
Do koszyka
Izolacje 10/2022

Izolacje 10/2022

9,99 zł 13,60 zł
-27%
Do koszyka
Elektro.Info 4/2014

Elektro.Info 4/2014

6,99 zł 9,50 zł
-26%
Do koszyka
Foundations of Control 10/2008
Praca zbiorowa

Foundations of Control 10/2008

4,99 zł
Do koszyka
Elektro.Info 6/2023

Elektro.Info 6/2023

13,99 zł 19,20 zł
-27%
Do koszyka
Elektro.Info 3/2014

Elektro.Info 3/2014

6,99 zł 9,50 zł
-26%
Do koszyka